使用重构D_s^-介子测量B_s^0寿命
高能物理 - 实验
2008-11-26 v1
摘要
我们报告了使用B_s^0 -> D^-_s X衰变测量B^0_s介子寿命的结果，其中D_s^-介子通过D_s^- -> phi pi^-和D_s^- -> K^{*0} K^-衰变通道被重构。从OPAL探测器在LEP所记录的约370万个hadronic Z^0衰变中，选取出包含911 ± 83个候选样本，其中约519 ± 136个预计来自B_s^0介子衰变。通过对D_s^-候选样本从束点到衰变顶点距离分布采用未分箱似然函数进行拟合，我们测得tau(B_s^0) = 1.72 + 0.20 - 0.19 + 0.18 - 0.17 ps，其中误差分别为统计误差和系统误差。
引用
@article{arxiv.hep-ex/9708023,
title = {A Measurement of the B_s^0 Lifetime using Reconstructed D_s^- Mesons},
author = {The OPAL Collaboration and K. Ackerstaff et al},
journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ex/9708023},
year = {2008}
}
备注
17 pages, LaTeX, uses a4p.sty, 3 eps figures included, submitted to Zeit. Phys. C