利用B0->D*+l-v衰变测量B0介子寿命和振荡频率
高能物理 - 实验
2008-11-26 v1
摘要
利用在LEP上OPAL探测器在Z0峰处记录的B0->D*+l-v衰变，测量了B0介子的寿命和振荡频率。D*+ -> D0pi+衰变采用包容技术重建，B0介子的产生味道通过事件其余部分的组合标记确定。得到的结果为t_B0 = 1.541 +- 0.028 +- 0.023 ps，Dm_d = 0.497 +- 0.024 +- 0.025 ps-1，其中每个结果的第一个误差为统计误差，第二个为系统误差。
引用
@article{arxiv.hep-ex/0010013,
title = {Measurement of the B0 Lifetime and Oscillation Frequency using B0->D*+l-v decays},
author = {The OPAL collaboration and G. Abbiendi},
journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ex/0010013},
year = {2008}
}
备注
17 pages, 4 figures, submitted to Phys. Lett. B