基于拓扑顶点法测量B+和B0介子寿命
高能物理 - 实验
2009-09-25 v1
摘要
B+和B0介子的寿命使用1993至1995年间SLD实验在SLC收集的150,000个 hadronic Z0衰变样本进行测量。该分析通过一种新颖的拓扑顶点技术重构B介子的衰变长度和电荷。该方法产生6033(3665)个带电(中性)顶点样本，电荷纯度较好。最大似然拟合程序得到t(B+)=1.67±0.07(stat)±0.06(syst) ps、t(B0)=1.66±0.08(stat)±0.08(syst) ps，以及t(B+)/t(B0)=1.01+0.09-0.08(stat)±0.05(syst)。
引用
@article{arxiv.hep-ex/9702002,
title = {Measurement of the B+ and B0 Lifetimes using Topological Vertexing},
author = {K. Abe},
journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ex/9702002},
year = {2009}
}
备注
13 pages, 3 figures