测量诱导的 Transmon 电离

尽管现在可以达到很高的测量保真度，但电路量子电动力学的色散量子比特读取却受到其量子非破坏性特征丧失以及随测量强度增加保真度下降的困扰。在本工作中，我们阐明了这一动态过程的本质，我们称之为 transmon 电离。我们开发了一个全面的框架，提供了 transmon 电离起源的物理图像。该框架由三个互补的描述层次组成：完全量子化的 transmon-谐振器模型、将谐振器视为 transmon 上经典驱动力的半经典模型，以及完全经典模型。关键在于，所有三种方法都保留了 transmon 的完整余弦势，并得出了相似的预测。该框架识别了导致 transmon 电离的多光子共振。它还允许人们有效地计算电离光子数阈值的数值估计，这与最近的实验结果惊人地一致。本工作中开发的工具在概念上和计算上都很简单，我们期望它们成为所有电路 QED 实验理论基础的组成部分。