对 Transmon 量子比特中中间电路测量的详细可解释特征化
量子物理
2026-02-19 v2
摘要
中间电路测量（MCM）是预期用于实现大规模量子计算的量子纠错协议的关键组件。MCM 可由量子仪器（一种量子操作或过程）进行建模，这些仪器可使用门集光谱法进行自一致特征化。然而，实验上估计的量子仪器往往难以解释或关联到器件物理。我们通过适应误差发生器形式化方法——该方法此前用于通过将误差过程分解为物理上有意义的“基本错误”之和来解释嘈杂量子门——来应对这一挑战。我们在 Transmon 量子比特设备上部署新分析，挖掘并量化包括幅度衰减、读出误差和不完美坍缩在内的误差机制。我们详细检查了这些误差随读出脉冲幅度的变化情况，恢复理论预测的散射读出关键特征，并表明这些特征可仅用少数参数构建的简化模型进行建模。
关键词
引用
@article{arxiv.2602.03938,
title = {Detailed, interpretable characterization of mid-circuit measurement on a transmon qubit},
author = {Piper C. Wysocki and Luke D. Burkhart and Madeline H. Morocco and Corey I. Ostrove and Riley J. Murray and Tristan Brown and Jeffrey M. Gertler and David K. Kim and Nathan E. Miller and Bethany M. Niedzielski and Katrina M. Sliwa and Robin Blume-Kohout and Gabriel O. Samach and Mollie E. Schwartz and Kenneth M. Rudinger},
journal= {arXiv preprint arXiv:2602.03938},
year = {2026}
}
备注
Minor update to Figure 5