测量中间电路测量的误差率

高保真中间电路测量（mid-circuit measurements）对于有用的量子计算至关重要。它们能够在不破坏特定量子比特状态或干扰其邻居的情况下，对多量子比特处理器中的特定量子比特进行读取，从而使 fault-tolerant 量子纠错、动态电路以及解决经典难以处理问题的其他路径成为可能。然而，几乎没有方法可以全面地评估其性能。我们通过引入首个测量中间电路测量误差率的随机基准测试协议（randomized benchmarking protocol），弥补了这一差距。该协议测量中间电路测量在多量子比特电路中诱导错误的速率。使用该协议，我们检测并消除了在 20 位量子离子 trap 量子计算机中之前未被发现的测量引起的串扰。随后，我们使用相同的协议测量了在 27 位 IBM Q 处理器上测量引起的串扰误差速率，并量化了通过动力学去耦合（dynamical decoupling）消除的误差比例。