铁磁 EuS 薄膜中由自旋塞贝克效应激发的磁子电流

磁性绝缘体是利用磁子电流传播自旋信息的理想平台。然而，迄今为止，大多数研究集中于 Y$_3$Fe$_5$O$_{12}$（YIG）及少数其他铁氧体与反铁磁绝缘体，而非纯铁磁体。在本研究中，我们首次证明磁子电流可在 EuS 的铁磁绝缘薄膜中传播。通过对 18 nm 厚的 EuS 薄膜使用 Pt 电极进行局域与非局域输运测量，我们探测到由自旋塞贝克效应热生成所产生的磁子电流。通过比较局域与非局域信号对温度（< 30 K）和磁场（< 9 T）的依赖性，我们确认了非局域信号的磁子输运起源。最后，我们提取了 EuS 薄膜中的磁子扩散长度（约 140 nm），该较短数值与同一薄膜中测得的大吉尔伯特阻尼良好对应。