自旋塞贝克效应起源的确定——体效应与界面效应

在绝缘体中观察到自旋塞贝克效应标志着自旋热电子学的一项突破，因为它具有在绝缘系统中通过热激发产生纯自旋流而无需移动电荷载流子的独特能力。自首次观察到该效应以来，其潜在机制和观测信号的起源一直存在高度争议。在此，我们展示了纵向自旋塞贝克效应振幅对绝缘铁磁体（YIG）厚度的特征依赖性。我们的测量表明，观察到的行为无法用任何源自界面的效应（例如自旋探测器（Pt）中的磁邻近效应）来解释。与热磁振子自旋流的理论计算进行比较，在厚度依赖性上获得了定性一致，该依赖性源于有限的有效磁振子传播长度，因此该效应的起源可追溯到真正的体磁振子自旋流，排除了寄生界面效应。