薄膜的磁圆二色性测量
材料科学
2015-05-14 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
利用磁场中基底上薄膜对左、右圆偏振光透射率的差异，可获得薄膜的磁圆二色性（MCD）。然而，所有界面处均存在反射，且这两种偏振的反射亦不同，并产生极克尔信号。本文计算了穿过界面的透射以及对总透射差异的贡献，以及薄膜与基底中吸收的差异。这为指导何时需要评估这些修正以从由薄膜中差分吸收引起的差分透射测量中获得真实磁圆二色性（MCD）提供了依据。
引用
@article{arxiv.1505.03458,
title = {Magnetic Circular Dichroism Measurements of Thin Films},
author = {Wala Dizayee and Minju Ying and A. Mark Fox and Gillian A. Gehring},
journal= {arXiv preprint arXiv:1505.03458},
year = {2015}
}
备注
9 pages