二向色滤光片的 Mueller 矩阵图揭示偏振像差

仪器设计者使用二向色滤光片将视场分割为不同光路，以同时测量不同光谱波段。量化二向色片的偏振像差对于预测下游入射偏振态十分重要，这可能影响衍射极限系统的性能。一个重要应用是系外行星成像日冕仪的前置光学。本工作中，使用旋转延迟器 Mueller 矩阵成像偏振计测量了 Edmund #69-205 650 nm 滚降二向色片的偏振特性。将该商用二向色片在法向与 45$^{\circ}$ 入射角下的偏振特性进行比较。法向入射测量未观测到偏振像差，从而验证了仪器校准。在 680 nm 与 45$^{\circ}$ 下的透射测量给出 2.9 rad 的延迟量值与 0.95 的二向衰减。实际上，在 630 nm 处该二向色片相当于具有水平快轴的 $\lambda$/4 波片。