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NiO 薄膜中的磁场线性吸收与晶场线性吸收

强关联电子 2007-05-23 v1

摘要

我们检测到单层 NiO 薄膜 Ni L2,3L_{2,3} X射线吸收光谱中的强吸收。该吸收信号似乎与厚薄反亚磁 NiO 薄膜中观察到的磁场线性吸收非常相似。然而,详细的实验和理论分析揭示,吸收是由单层薄膜中的晶场效应引起的,这一效应并非微不足道,因为高自旋 Ni 3d83d^{8} 基态在低对称性晶场下并未被分裂。我们提出了一种实用的方法,用于识别 NiO 薄膜(任意厚度和晶格应变)中磁场和晶场对线性吸收信号的独立贡献。我们的发现也直接适用于高自旋 3d53d^{5}3d33d^{3} 系统,如 LaFeO3_{3}、Fe2_{2}O3_{3}、VO、LaCrO3_{3}、Cr2_{2}O3_{3} 和 Mn4+^{4+} 钙酸盐薄膜。

关键词

引用

@article{arxiv.cond-mat/0310634,
  title  = {Magnetic versus crystal field linear dichroism in NiO thin films},
  author = {M. W. Haverkort and S. I. Csiszar and Z. Hu and S. Altieri and A. Tanaka and H. H. Hsieh and H. -J. Lin and C. T. Chen and T. Hibma and L. H. Tjeng},
  journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0310634},
  year   = {2007}
}