钯纳米机械谐振器的低温耗散机制

我们在线性响应区研究了低温下Pd纳米机械谐振器的耗散。金属谐振器已表现出由隧穿双能级系统（TLS）引起的耗散特征。该系统通过吸附氢（$H_2$）产生压应力，提供了耗散机制独特的可调性。预期内应力会改变TLS行为。我们在耗散中发现了一个次线性幂律 $\sim T^{0.4}$。正如在TLS耗散机制中所见，我们发现频率从最低温度开始呈对数增长，直至达到特征温度 $T_{co}$。在不含 $H_2$ 的样品中 $T_{co} \sim 1K$，而在吸附 $H_2$ 后则明显降低至 $\sim 700 mK$。基于标准TLS现象，我们将其归因于具有压应变样品中声子-TLS耦合的增强。我们还发现，吸附 $H_2$ 后低温耗散出现饱和，这可能是由于TLS与声子之间的超辐射相互作用。我们在TLS现象的范围内讨论了这些数据以及其他系统的类似数据。