电子去相干中两水平系统的实验检验
介观与纳米尺度物理
2009-10-31 v1
摘要
我们分析了隧穿两水平系统(TLS)对于金属中电子去相干的相关性。我们演示，如果TLS浓度足以导致观察到的去相干速率，同时也应在比热和声学衰减中观察到相当大的效应。在这两种情况下，TLS贡献在足够低的温度下应主导电子贡献。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0010228,
title = {Experimental tests for the relevance of two-level systems for electron dephasing},
author = {I. L. Aleiner and B. L. Altshuler and Y. M. Galperin},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0010228},
year = {2009}
}
备注
4 pages