用于L1$_0$ FePd薄膜畴壁结构研究的洛伦兹显微映射
仪器与探测器
2009-09-01 v1
摘要
使用洛伦兹透射电子显微镜研究了具有垂直各向异性的薄膜合金。本工作聚焦于畴壁的构型，并展示了LTEM用于垂直磁各向异性材料磁性表征的适用性和准确性。通过微磁建模和LTEM相位恢复方法研究了化学有序()FePd合金薄膜。通过实验图像研究了建模描述的不同磁化分量，并通过LTEM衬度模拟进行了确认。此外，通过使用一种分离电学和磁学对相位信息贡献的原创方法，对畴壁内部的磁感应强度进行了定量测量。还观察到沿畴壁的不规则性，这些不规则性可能在磁化过程中起重要作用。
引用
@article{arxiv.0908.4463,
title = {Lorentz microscopy mapping for domain walls structure study in L1$_0$ FePd thin films},
author = {Aurélien Masseboeuf and Christophe Gatel and Pascale Bayle-Guillemaud and Alain Marty and Jean-Christophe Toussaint},
journal= {arXiv preprint arXiv:0908.4463},
year = {2009}
}
备注
Ultramicroscopy (2009) In press