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电子玻璃中的对数弛豫与应力老化

无序系统与神经网络 2012-12-03 v1

摘要

电导的慢弛豫和老化是被称为电子玻璃的一系列材料的实验特征。我们报告了标准电子玻璃晶格模型的动力学蒙特卡洛模拟。在非平衡态下,电子通常会形成具有高于声子浴温度的有效电子温度的费米分布。我们研究了三种不同情况下的有效温度随时间的变化:从初始随机态淬火后的弛豫、外部电场驱动期间以及此类驱动后的弛豫。我们观察到,从随机初始态淬火后以及用强电场驱动系统一段时间 twt_w 后,有效温度均呈现对数弛豫。对于不太强的电场和不太长的 twt_w,我们观察到不同等待时间的有效温度数据在绘制为 t/twt/t_w 的函数时发生坍缩——即所谓的简单老化。在驱动期间,我们研究了有效温度是如何建立的,区分了涉及跃迁的站点与未涉及站点的贡献。研究发现,加热主要影响涉及跃迁的站点,但在强驱动下,其余站点也会被加热。

关键词

引用

@article{arxiv.1202.0630,
  title  = {Logarithmic relaxation and stress aging in the electron glass},
  author = {J. Bergli and Y. M. Galperin},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1202.0630},
  year   = {2012}
}