MgO薄膜中Fe$^{2+}$杂质的局域电子结构：温度依赖的软X射线吸收谱研究
强关联电子
2011-07-05 v1
摘要
我们报告了MgO薄膜中Fe杂质的局域电子结构。利用软X射线吸收谱（XAS），我们验证了Fe杂质均处于2+价态。Fe 边线形中的精细细节直接证明了动态Jahn-Teller畸变的存在。我们能够确定有效晶体场能量的大小。我们还观察到光谱中强烈的温度依赖性，这归因于由于Fe 3d中的自旋-轨道耦合而存在的低激发态的热布居。以该Fe杂质系统为例，我们表明精确测量FeO中的轨道矩将直接估计Fe位点上的有效局域低对称晶体场，这对于轨道有序形成的理论建模至关重要。
引用
@article{arxiv.1011.1152,
title = {Local electronic structure of Fe$^{2+}$ impurities in MgO thin films: Temperature-dependent soft x-ray absorption spectroscopy study},
author = {T. Haupricht and R. Sutarto and M. W. Haverkort and H. Ott and A. Tanaka and H. H. Hsieh and H. -J. Lin and C. T. Chen and Z. Hu and L. H. Tjeng},
journal= {arXiv preprint arXiv:1011.1152},
year = {2011}
}