轻子介子径向 Regge 轨迹

提出了一种新物理机制，以解释高能介子激发的普遍耗竭。该机制考虑到当弦的长度超过临界值 $R_1 \simeq 1.4$ fm 时，由于 $q\bar{q}$ 成对产生而在弦世界薄片中出现洞。认为，在大 $N_c$ 环抑制与由洞产生的有利动作增益之间形成的微妙平衡，创建了一种新的亚稳定（前衰变）阶段，其正规化弦张力现在取决于分离度 r。这导致径向 Regge 轨迹斜率更小，与对实验数据分析[参考文献3]的结果良好一致。