中微子工厂中的轻子 CP 破坏

在本报告中，基于文献 \cite{cpviolation} 的工作，我们通过探索这两个参数的完整范围，改进了先前文献 \cite{golden} 中对 LMA-MSW 方案下中微子工厂轻子 CP 破坏与 $\tetaot$ 灵敏度的分析。我们发现在固定的中微子能量 $E_\nu$ 和基线 $L$ 下存在简并解。尽管谱分析有助于区分真实解与虚假解，但对于现实探测器，该简并的残余效应依然存在，我们对此进行了分析。此外，我们考虑了太阳与大气振荡参数以及沿中微子路径的平均地球物质密度的预期不确定性。O(3000) km 的中等基线仍是研究 CP 破坏的最佳选择，尽管两种基线的组合对于解析简并性非常重要。本总结基于 2001 年 5 月在日本筑波举行的 NUFACT01 上的报告。