利用中微子工厂测量CP破坏

我们讨论了在标准三中微子情景下，利用中微子工厂观测轻子CP破坏的前景。如果大混合角MSW效应被证实是太阳中微子亏损的原因，那么观测$\reu$和$\reub$振荡概率之间的不对称性将代表一个激动人心的实验挑战。我们确定了在不同基线长度下，作为μ子源强度和探测器尺寸函数的、能够找到证据的参数空间区域。我们讨论了由此对中微子工厂提出的要求。我们处理了由实验装置和物质效应引起的不对称性相关问题。最后，我们强调了测量两个CP共轭道以精确确定$\theta_{13}$的重要性。