CP破坏效应与高能中微子

这项工作批判性地讨论了在高能中微子工厂中测量CP和T破坏效应的前景。为此，我们在三味中微子的标准框架内，发展了适用于高$E_\nu$的物质中振荡概率的简单表达式。所有CP破坏效应都随$E_\nu^{-3}$消失，并且很难用高能中微子探测到。一个明显更容易的任务是确定中微子混合矩阵中控制CP和T破坏效应的相位的绝对值$|\delta|$，通过对振荡概率的CP和T守恒部分进行精确测量来实现。