CP破坏中微子工厂实验中的误差关联

研究了一种间接 CP 破坏中微子工厂实验，包括六个振荡参数与一个物质效应归一化参数 C 的误差的同时关联。发现对于较大的 $\theta_{13}$ 值（$3^\circ$），量级为 5% 的物质效应不确定性意味着测量 $\delta$ 的最佳基线从 3000km 缩短至 2000km。当假设本底比例为 $10^{-3}$ 时，最佳 muon 能量也从 50GeV 降至约 20GeV。发现 L=2000km、$E_\mu=$20GeV 的实验对低至约 $\theta_{13}\approx0.3^\circ$ 的非零 $\delta$ 敏感。