双极大中微子混合纹理中的轻子味破坏过程

我们在包含右手手中微子的 MSSM 框架下，针对准简并与逆层级中微子质量取大混合角 MSW 解，研究了轻子味破坏。在假设简并右手手征 Majorana 中微子质量下，我们预言了 $\mu \to e+\gamma$ 过程的分支比。我们发现，准简并中微子质量谱中的分支比比逆层级和层级中微子质量谱中的分支比小 100 倍。我们强调 $U_{e3}$ 的大小是预言 BR($\mu \to e +\gamma$) 的重要因素之一。此外还估计了偏离完全简并右手手征 Majorana 中微子质量的效应。