中微子混合双最大纹理中的轻子味破坏过程

我们在具有右手中微子的 MSSM 框架内，采用大混合角 MSW 解，研究了准简并和逆层级中微子质量情况下的轻子味破坏。我们假设右旋 Majorana 中微子质量简并，预测了 $\mu \to e+\gamma$ 和 $\tau \to \mu+\gamma$ 过程的分支比。我们发现，准简并中微子质量谱中的分支比比逆层级和层级中微子谱中的小 100 倍。我们强调 $U_{e3}$ 的大小是预测 BR($\mu \to e +\gamma$) 的重要因素之一。还估计了偏离完全简并右旋 Majorana 中微子质量的影响。此外，我们检查了给出准简并中微子质量的 $S_{3\sL}\times S_{3\sR}$ 模型和给出逆层级中微子质量的 Shafi-Tavartkiladze 模型。两者预测的 $\mu\to e+\gamma$ 分支比都小于实验界限。