低尺度跷跷板中微子导致的带电轻子味破坏

在本文工作中，我们研究了为解释中微子质量证据而引入的右手中微子对带电轻子味破坏观测量影响。我们特别关注由圈诱导的Z玻色子衰变为两个不同味轻子的过程。我们在逆跷跷板模型中对这些过程预言的速率进行了数值研究，特别考虑了 $\mu -e$ 跃迁被压低的情景。在与最相关的实验限制比较后，我们的结论是：在 $\tau -\mu$ 或 $\tau -e$ 通道中，可预言高达 $10^{-7}$ 的分支比，同时伴随TeV量级质量的重中微子。这样的速率可能在下一代对撞机上可观测。