厚膜模型中的中微子质量与轻子味破坏

我们在“厚膜”范式中探讨了轻子味破坏与中微子质量问题，其中味改变过程通过将不同费米子场波函数局域在厚膜中（额外维里）的不同位置而被抑制。我们研究了在此模型中抑制轻子数破坏的带电轻子衰变对轻子质量与混合角的后果。特别地，我们发现带电轻子质量矩阵被约束为准对角的。我们进一步通过考虑膜内三个右手中微子的存在，探讨了同一范式能否用于自然地解释小 Dirac 中微子质量，并讨论了获得唯象上可行的中微子质量与混合角所需的条件。最后，我们考察了中微子通过在遥远膜中破坏轻子数而获得小 Majorana 质量的模型，并表明，如果厚膜范式是带电轻子衰变中不存在轻子数破坏的解决方案，此类模型预言，在不存在味对称性的情况下，将在下一轮稀有 μ/τ 衰变实验中观测到带电轻子味破坏。