激光显微镜测量单晶磁性薄膜界面的隧道磁阻
强关联电子
2009-11-11 v1 材料科学
摘要
使用低温扫描激光显微镜，我们直接成像磁阻性元件，即被 grain boundary(界)截断的磁性薄膜。变量温度下的成像允许重建并比较该薄膜与界面的局部电阻随温度的变化。低温成像还显示，界切换在不同电阻态之间，这是由于界上磁性域的形成和生长所致。我们观察到不同类型的域壁生长；在大多数情况下，域壁在桥梁一端萌发，然后向另一端生长。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0511662,
title = {Laser microscopy of tunneling magnetoresistance in manganite grain-boundary junctions},
author = {M. Wagenknecht and H. Eitel and T. Nachtrab and J. B. Philipp and R. Gross and R. Kleiner and D. Koelle},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0511662},
year = {2009}
}
备注
5 pages, 4 figures; submitted to Phys. Rev. Lett