电迁移金属碳链间隙中的 Kondo 效应
介观与纳米尺度物理
2015-06-24 v1
摘要
我们报告了在裸金属碳链间隙中进行的栅极依赖的传输测量，Kondo 杂质通过一种主动控制的电迁移工艺以高产率生成。30% 的测量器件显示零偏置电导峰。温度依赖性暗示 Kondo 温度约为 7 K。磁场下的峰分裂与 g=2 的理论预测一致，尽管在许多器件中，分裂偏离 2guB 有一个固定的能量。观察到的 Kondo 共振可能源于电迁移过程中形成的原子尺度金属颗粒。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0410752,
title = {Kondo Effect in Electromigrated Gold Break Junctions},
author = {A. A. Houck and J. Labaziewicz and E. K. Chan and J. A. Folk and I. L. Chuang},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0410752},
year = {2015}
}
备注
5 pages, 3 figures