非易失性NAND闪存上的本征PUF实例
密码学与安全
2021-11-11 v1 网络与互联网体系结构
摘要
基于嵌入式系统或微控制器的模块在我们的日常生活中已变得日益普遍。然而，在日益增长的物联网（Internet of Things, IoT）领域中，嵌入式设备的安全性以及硬件的真实性已成为日益关切的问题。本文中我们搭建了一个可观测SLC闪存编程干扰的实验环境。我们发现页内干扰比页间干扰更容易产生。我们还观察到相邻页以(2n, 2n+1)方式成对，且干扰仅在一对页内发生。最后，我们发现随着页号从0增至63，观测到页内首次比特翻转变得越来越困难，从而也更难达到干扰稳定状态。
引用
@article{arxiv.2111.05459,
title = {Intrinsic PUF Instance on Non-Volatile NAND Flash Memory},
author = {Surbhi Vasudeva and Sara Tehranipoor and Nima Karimian},
journal= {arXiv preprint arXiv:2111.05459},
year = {2021}
}