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TaON 的本征缺陷与电子电导率:第一性原理见解

材料科学 2012-03-07 v1 计算物理

摘要

作为介于氧化钽和氮化钽之间的化合物,氧氮化钽 TaON 有望结合两者的优势,成为一种高效的可见光驱动光催化剂。在本文中,利用杂化泛函计算,我们表明 TaON 具有不同于二元氧化钽和氮化钽的缺陷特性:(i) 主导缺陷不是 O 或 N 空位也不是 Ta 间隙原子,而是 ONO_N 反位缺陷,它决定了其本征 n 型电导率和 p 型掺杂的困难;(ii) ONO_N 反位缺陷具有比 O 或 N 空位更浅的施主能级,其离域分布主要由 Ta 5d5d 轨道组成,这使得氧氮化物的电子电导率优于氧化物和氮化物。相稳定性分析表明,在富 O 条件下 TaON 的易氧化是不可避免的,合成化学计量比的 TaON 样品需要相对贫 O 的条件。

关键词

引用

@article{arxiv.1110.5603,
  title  = {Intrinsic Defects and Electronic Conductivity of TaON: First-Principles Insights},
  author = {Shiyou Chen and Lin-Wang Wang},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1110.5603},
  year   = {2012}
}