应变石墨烯中范霍夫奇点的干涉测量
应用物理
2019-11-05 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
本研究提出一种基于全内反射与相移干涉术的方法来测量应变石墨烯中的范霍夫奇点。线偏振光依次通过若干四分之一波片与半波片、半圆柱棱镜以及马赫-曾德尔干涉仪。范霍夫奇点表现为两路干涉信号最终相位差谱中的若干尖锐凹陷或峰值。数值分析表明，范霍夫奇点的数目与所施加应力的模无关，但其位置随拉伸强度的增大而发生偏移。此外，奇点的数目与位置强烈依赖于应力方向相对于石墨烯晶格中锯齿轴的方向。进而，我们表明奇点位置与拉伸方向相对于入射辐射电场切向分量的方向无关。
引用
@article{arxiv.1911.01068,
title = {Interferometric measurement of Van Hove singularities in strained graphene},
author = {Samad Roshan Entezar},
journal= {arXiv preprint arXiv:1911.01068},
year = {2019}
}
备注
15 pages, 6 figures