从单层FeSe/SrTiO$_3$的本征复制能带提取的界面电声耦合常数
材料科学
2021-07-07 v1 超导电性
摘要
角分辨光电子能谱对复制能带的观测引发了人们对低载流子密度下电声耦合的研究兴趣，特别是在单层FeSe/SrTiO中，复制能带的出现促使理论工作提出FeSe层中电子与SrTiO衬底中光学声子的界面耦合可能有助于提高超导配对温度。另者，最近也有人提出此类复制能带可能源于与光发射过程相关的外在末态损耗。在此，我们对单层FeSe/SrTiO中的复制能带进行定量考察，能够确凿证明复制能带确实是本征电子-玻色子耦合的特征，而非与末态效应相关。对高阶复制能带间能量分裂以及其他自能效应的详细分析，使我们确定该系统中的界面电声耦合对应值。
引用
@article{arxiv.2102.03397,
title = {Interfacial Electron-Phonon Coupling Constants Extracted from Intrinsic Replica Bands in Monolayer FeSe/SrTiO$_3$},
author = {Brendan D. Faeth and Saien Xie and Shuolong Yang and Jason K. Kawasaki and Jocienne N. Nelson and Shuyuan Zhang and Pramita Mishra and Chen Li and Christopher Jozwiak and Aaron Bostwick and Eli Rotenberg and Darrell G. Schlom and Kyle M. Shen},
journal= {arXiv preprint arXiv:2102.03397},
year = {2021}
}
备注
5 pages, 4 figures