SiC上外延石墨烯中插层的铕金属
介观与纳米尺度物理
2017-10-30 v1
摘要
X射线磁圆二色性(XMCD)揭示了SiC(0001)上石墨烯下方插层铕金属的磁性。通过在外延生长的石墨烯上沉积Eu并在保持石墨烯层完整性的同时在不同温度下退火，形成了石墨烯与SiC衬底之间的Eu纳米团簇（平均尺寸2.5 nm）插层。利用在 K下Eu M边的XMCD求和规则分析，我们的样品表现出类顺磁行为，在T 90 K处存在明显异常，这可能与块体金属Eu的N{\`e}el转变T = 91 K有关。我们未发现源于EuO的铁磁性或源于EuO的反铁磁性的证据，表明石墨烯层在数月暴露于大气环境的过程中保护了插层金属Eu免于氧化。
引用
@article{arxiv.1710.07396,
title = {Intercalated europium metal in epitaxial graphene on SiC},
author = {Nathaniel A. Anderson and Myron Hupalo and David Keavney and Michael C. Tringides and David Vaknin},
journal= {arXiv preprint arXiv:1710.07396},
year = {2017}
}
备注
6 pages, 5 figures