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Ar-H$_2$O 阈上电离的强度分辨测量

原子物理 2023-10-26 v3 化学物理

摘要

研究了中心波长 515\,nm 的飞秒激光脉冲对含范德瓦尔斯复合物 Ar-H2_2O 的气体混合物产生的阈上电离(ATI)。通过符合探测光离子与光电子,同时分辨并测量了 Ar、Ar2_2、H2_2O 与 Ar-H2_2O 的 ATI 谱。利用强度扫描技术,我们观测到 ATI 谱随激光强度的红移。Ar-H2_2O 与 H2_2O 所观测到的 ATI 峰位强度依赖位移彼此吻合,但与 Ar 和 Ar2_2 的测量结果显著不同。这表明光电子从该复合物的 H2_2O 位点发射,且 Ar-H2_2O 的垂直电离势确定为 (12.4±0.1)(12.4 \pm 0.1)\,eV。然而对于重散射电子,相较于 H2_2O,在 Ar-H2_2O 中观测到高阶 ATI 的增强,表明较大的 Ar 原子充当了散射中心,影响了电离动力学。

关键词

引用

@article{arxiv.2305.07077,
  title  = {Intensity-resolved measurement of above-threshold ionization of Ar-H$_2$O},
  author = {Adrian Platz and Sebastian Hell and Yinyu Zhang and Bo Ying and Gerhard G. Paulus and Matthias Kübel},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2305.07077},
  year   = {2023}
}

备注

8 pages, 7 figures