纳米线超导单光子探测器中的非均匀临界电流
超导电性
2015-06-23 v1
摘要
具有均匀特性的超导薄膜是实现高性能和高成品率纳米线超导单光子探测器（SSPDs）的关键。为了研究 NbN 薄膜的均匀性，我们引入并表征了由长度从 100nm 到 15{\mu}m 的短纳米线组成的简单探测器。与蜿蜒型 SSPD 不同，我们的纳米线能够在纳米尺度探测 NbN 的均匀性。实验结果得到微观模型的支持，显示出 NbN 薄膜在亚 100nm 尺度上具有强烈的非均匀特性。
引用
@article{arxiv.1412.0416,
title = {Inhomogeneous critical current in nanowire superconducting single-photon detectors},
author = {Rosalinda Gaudio and Koen P. M. op 't Hoog and Zili Zhou and Dondu Sahin and Andrea Fiore},
journal= {arXiv preprint arXiv:1412.0416},
year = {2015}
}
备注
10 pages, 4 figures