缺陷对 SrTiO$_3$ 105 K 结构相变临界行为的影响：II. 锐分布成分
材料科学
2007-05-23 v3
摘要
我们利用 100-120 keV 高分辨率三轴衍射仪，对 105 K 结构相变后 SrTiO 的晶轴参数 mosaicity、晶格参数变化、积分反射率及临界散射进行深度依赖性研究。深度电阻测量表明氧空位并非导致两长度尺度现象的原因。发现锐分布成分仅出现在高度完美单晶的表面近邻区域，与晶轴量指数级增大相关。第二长度尺度在可缓解应力场的表面缺失。锐分布成分在 mosaicity 较大的晶体中被显著抑制。长程应力场与表面接近似为观察锐分布成分的必要条件。如果临界散射强度按 Lorentzian 响应平方成比例（而非常规做法中 Lorentzian 平方响应），第二长度尺度的临界指数与尺度律良好吻合。宽分布成分的临界指数独立于锐分布成分的出现。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0006128,
title = {Influence of defects on the critical behaviour at the \boldmath{105} K structural phase transition of SrTiO$_3$: II. The sharp component},
author = {H. Hünnefeld and T. Niemöller and J. R. Schneider and U. Rütt and S. Rodewald and J. Fleig and G. Shirane},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0006128},
year = {2007}
}
备注
29 pages, 15 figures. submitted to Phys. Rev. B