半导体SrTiO$_{3}$中的结构与关联效应

我们利用角分辨光电子能谱研究了结构变化和电子关联对SrTiO$_{3}$单晶的影响。我们表明，在105$^\circ$K发生的立方到四方相变表现为电荷从面内（$d_{yz}$和$d_{zx}$）能带转移到面外（$d_{xy}$）能带，这与理论预测相反。沿着这一二级相变，我们发现了准粒子强度和有效质量的平滑演化。面内能带呈现出峰-谷-肩线形，表明在相对较大（170 meV）的能量尺度上存在高度关联，这归因于极化子的形成。