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III-V/Si外延前不可避免的硅表面钝化对润湿性质的强烈影响

材料科学 2024-01-23 v1 应用物理 化学物理 计算物理

摘要

本文定量评估了 III-V/Si 异质外延前不可避免的硅表面钝化对初始硅衬底表面能的影响,并探讨了其对润湿性质描述的后果。使用密度泛函理论确定了 P 钝化和 Ga 钝化硅表面的绝对表面能及其对化学势的依赖关系。特别地,我们表明,尽管裸硅表面通常被认为具有约 90 meV/A˚2\r{A}^2 的表面能,但 Ga 或 P 原子的表面钝化导致表面强烈稳定化,表面能处于 [50-75 meV/A˚2\r{A}^2] 范围内。对润湿性质的纯从头计算分析表明,只有当初始钝化硅表面能至少去稳定化 15 meV/A˚2\r{A}^2,或者 III-V (001) 表面能被同等程度稳定化时,完全润湿状态才可能实现。

关键词

引用

@article{arxiv.2312.01412,
  title  = {Inevitable Si surface passivation prior to III-V/Si epitaxy: A strong impact on wetting properties},
  author = {S. Pallikkara Chandrasekharan and D. Gupta and C. Cornet and L. Pedesseau},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2312.01412},
  year   = {2024}
}

备注

6 pages, 4 figures