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原子金线系统中氢污染的非弹性指纹特征

介观与纳米尺度物理 2007-05-23 v2

摘要

我们展示了一系列针对纯金线和氢污染金线系统的第一性原理计算,以研究如何检测此类杂质。我们展示了在金线中单个H原子或单个H2分子在拉伸过程中将如何影响力和Au-Au原子间距。我们进一步确定了低偏压电导以及振动非弹性贡献的相应演变。我们的结果表明,金线的电导仅因单个氢杂质的存在而从电导量子G0=2e^2/h略有降低,因此难以使用电导本身来区分各种构型。另一方面,我们对非弹性信号的计算预测了纯金线和氢污染金线之间存在显著差异,并且重要的是,杂质原子形式和分子形式之间也存在显著差异。因此,通过电导中非弹性信号的应变依赖性,应该可以对带有氢杂质的金线进行详细表征。

关键词

引用

@article{arxiv.cond-mat/0608510,
  title  = {Inelastic fingerprints of hydrogen contamination in atomic gold wire systems},
  author = {Thomas Frederiksen and Magnus Paulsson and Mads Brandbyge},
  journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0608510},
  year   = {2007}
}

备注

5 pages, 3 figures, Contribution to ICN+T2006, Basel, Switzerland, July-August 2006