使用RIT偏振成像相机对2017年日全食的成像偏振测量
太阳与恒星天体物理
2020-02-11 v1 天体物理仪器与方法
摘要
在过去十年中，基于微偏振片阵列的成像偏振计已被开发用于地面遥感和计量应用。基于微偏振片的传感器比其他具有相似光谱响应和快照能力的偏振计体积显著更小且机械更稳健。为确定这些新型偏振计用于天文应用的适用性，我们开发了RIT偏振成像相机（RITPIC）以研究这些器件的性能，特别关注低信噪比 regime。我们在实验室中通过对每个像素的相对通量、效率和取向随波长的函数关系进行表征来确定器件性能。利用所得的像素响应模型，我们开发了用于孔径测光和成像偏振测量观测模式的解调流程。我们发现，使用当前校准，RITPIC能够探测小至<0.3%的偏振信号。为展示RITPIC校准的稳定性和其极高便携性，我们在2017年俄勒冈州马德拉斯日全食期间对日冕进行了成像偏振测量。测得的最大偏振度约为46%，与Thomson散射日冕预测的最大值吻合良好。类似地，我们发现线偏振角与切向方向无强烈偏差。这些传感器在数据采集、校准和分析上的相对简便性表明，它们可能成为针对众多天文目标的重要工具。
引用
@article{arxiv.1909.12785,
title = {Imaging Polarimetry of the 2017 Solar Eclipse with the RIT Polarization Imaging Camera},
author = {Dmitry Vorobiev and Zoran Ninkov and Lee Bernard and Neal Brock},
journal= {arXiv preprint arXiv:1909.12785},
year = {2020}
}
备注
16 pages, 13 figures. Submitted to PASP September, 2019