识别并理解缺陷对钙钛矿光电器件的正向影响

缺陷通常被认为对材料中的载流子复合、电荷输运与离子迁移具有负面影响，从而降低光电器件的效率、速度与稳定性。同时，大量聚焦于最小化缺陷的努力已极大提升了器件性能。那么，缺陷在光电器件中能否具有正向作用？在此，基于对半导体中缺陷相关效应的深入理解，利用缺陷对光生载流子的捕获来放大光电探测中的光电导增益。因此，该光电探测器实现了创纪录的光电导增益、增益-带宽积与探测极限。超越缺陷有害的普遍观念，我们识别出缺陷在光电探测中可具正向作用的新视角，这可能指导我们设计高性能光电探测器。