ICDAR 2021 集成电路文本检测与美学评估竞赛
计算机视觉与模式识别
2021-07-13 v1
摘要
随着每天有数十万个电子芯片元件被制造出来，芯片制造商对寻求更高效、更有效的方式来检测芯片元件上印刷文本质量的需求日益增长。阻碍该领域研究的主要问题是缺乏真实的芯片上的文本数据集作为坚实基础。因此，一个名为ICText的芯片上的文本数据集被用作所提出的2021年集成电路文本检测与美学评估鲁棒阅读挑战赛（RRC-ICText）的主要目标，以鼓励针对该问题的研究。在整个竞赛过程中，我们总共收到了来自10个独特团队/个人的233份提交。本报告给出了竞赛的细节与提交结果。
引用
@article{arxiv.2107.05279,
title = {ICDAR 2021 Competition on Integrated Circuit Text Spotting and Aesthetic Assessment},
author = {Chun Chet Ng and Akmalul Khairi Bin Nazaruddin and Yeong Khang Lee and Xinyu Wang and Yuliang Liu and Chee Seng Chan and Lianwen Jin and Yipeng Sun and Lixin Fan},
journal= {arXiv preprint arXiv:2107.05279},
year = {2021}
}
备注
Technical report of ICDAR 2021 Competition on Integrated Circuit Text Spotting and Aesthetic Assessment