弱值如何在克隆量子系统的联合测量中涌现

对最优普适量子克隆的统计分析表明，可以识别一个理想的（但非正定的）复制过程，该过程忠实地将原始希尔伯特空间的所有性质映射到两个分离的量子系统上。对分离克隆体上非对易测量的联合概率，对应于在单系统弱测量中观测到的复联合概率的实部，其中对两个克隆体的测量替代了相应的弱测量与后选择序列。弱测量统计量的虚部可以通过用部分交换操作替换克隆过程来获得。受控交换操作结合了这两种过程，使得完整的弱测量统计量可以作为两个输出系统上完全分辨的投影测量的联合概率中的一个明确定义的贡献而被获取。