超越最优克隆的测量-扰动权衡
量子物理
2018-08-27 v1
摘要
量子力学的特征之一在于，任何从一般量子系统提取信息的测量都必然对该系统态造成不可避免的扰动。人们已发展出大量不同方法来刻画并优化这一权衡。在此，我们应用量子仪器(quantum instruments)框架研究最优权衡，并导出一类对大多数有意义度量而言最优的过程。我们将分析聚焦于通信与计算协议中常用的量子比特上的二元测量，并从理论与实验上证明，最优通用非对称量子克隆机虽适于克隆，却并非测量的最优过程，且可被以高显著性超越。
引用
@article{arxiv.1808.07882,
title = {Measurement-Disturbance Tradeoff Outperforming Optimal Cloning},
author = {Lukas Knips and Jan Dziewior and Anna-Lena K. Hashagen and Jasmin D. A. Meinecke and Harald Weinfurter and Michael M. Wolf},
journal= {arXiv preprint arXiv:1808.07882},
year = {2018}
}
备注
11 pages, 7 figures. Comments are welcome