基于直方图的闪存信道估计

当前一代的闪存器件在编程和擦除操作期间因氧化层受损而经历显著的读取信道退化。关于读取信道退化的信息驱动了闪存中用于减轻其影响的高级信号处理方法。在此背景下，由于信道退化随时间演变且作为编程/擦除（P/E）循环次数的函数，信道估计必须持续进行。本文提出了一种使用有限信道测量（读取）进行持续基于模型的信道估计的框架。本文使用了一个信道模型来表征由保留时间和编程及擦除的电荷量引起的退化。对于信道直方图测量，选择分箱以实现近似等概率分箱，仅使用十个分箱（即九次读取）即可对原始分布获得良好的近似。在确立信道模型和分箱策略后，本文探讨了候选的数值最小二乘算法，并最终证明了 Levenberg-Marquardt 算法的有效性，该算法兼具速度和精度。