一种可扩展微加工表面电极离子阱中的加热速率与电极充电测量
量子物理
2016-02-15 v1
摘要
我们表征了一种表面电极离子“芯片”阱的性能，该阱采用成熟的半导体集成电路和微机电系统（MEMS）微加工工艺制造，原则上可扩展至更大的离子阱阵列，正如实现离子阱量子信息处理所提议的那样。我们测量了平行和垂直于阱电极平面的射频离子微运动，并发现封装电容器将其振幅降低至约10纳米以下。我们还测量了离子囚禁寿命、由激光照射阱电极引起的充电效应，以及单个囚禁离子的加热速率。发现该阱的性能与同尺寸级别的其他阱相当。
引用
@article{arxiv.1105.4864,
title = {Heating rate and electrode charging measurements in a scalable, microfabricated, surface-electrode ion trap},
author = {D. T. C. Allcock and T. P. Harty and H. A. Janacek and N. M. Linke and C. J. Ballance and A. M. Steane and D. M. Lucas and R. L. Jarecki and S. D. Habermehl and M. G. Blain and D. Stick and D. L. Moehring},
journal= {arXiv preprint arXiv:1105.4864},
year = {2016}
}
备注
6 pages, 10 figures