纠缠 $\boldsymbol{B_d}$ 系统的真正 T、CP、CPT 不对称参数

我们建立了理论 T、CP、CPT 不对称性（以过滤中性介子 $B_d$ 态之间的跃迁概率表示）与实验不对称性（在产生纠缠态的 B 工厂中，味-CP 本征态衰变产物的双衰变率强度之间的不对称性）之间的精确联系。这使得能够识别不对称性时间分布中的真正不对称参数，并通过分离真正项和可能的虚假项来确定其可测量性。我们用 Weisskopf-Wigner 动力学描述中纠缠 $B_d$-介子态的要素表达了九个不对称参数——三种对称性各对应三个不同的可观测量——并从 BaBar 合作组的实验结果中获得了这些参数的全局拟合值。可能的虚假项均与零相容，且九个不对称参数的信息内容确实各不相同。非零的 $\Delta\mathscr S_c^{\rm T} =-0.687\pm 0.020$ 和 $\Delta\mathscr S_c^{\rm CP}=-0.680\pm 0.021$ 是这些跃迁中存在时间反演破坏和 CP 破坏的令人印象深刻的独立直接证据，并与标准模型预期相符。一个有趣的 2$\sigma$ 效应出现在负责 CPT 破坏的 Re($\theta$) 参数上，若将其解释为上限，则导致质量矩阵的对角味项在 95\% 置信水平下满足 $|M_{\bar B^0\bar B^0}-M_{B^0B^0}| < 4.0\times 10^{-5}$ eV。它以非正统的方式——通过其 $\cos(\Delta M\,t)$ 时间依赖性——对 CP 破坏的 $\Delta\mathscr C_c^{\rm CP}$ 不对称参数做出贡献，并且可在具有非纠缠 $B_d$ 介子的设施（如 LHCb 实验）中访问。