EPR 相关 $B^0 \bar B^0$ 衰变中的 CP、T 与 CPT 分析

在本工作中，我们研究了 B 介子系统中的 T、CP 与 CPT 对称性。我们的分析和结果针对 B 因子厂中的相关介子。在第一套理论与结果中，我们研究了这些离散对称性在 B 混合和干扰中衰变中的后果。借助 CP 标记，我们计算所有可能的强度和不对称，这涉及具体的和 CP 金色盘片衰变。我们提出的可观测量是标准模型的一种新型自洫性检查，也是对 B 系统中离散对称性痕迹的新探索。在第二套结果中，我们通过 $B^0$ 和 $\bar B^0$ 初始状态中 indistinguishability 的丧失来研究 CPT 违反。我们指出，如果巨斯统计的后果被放宽，则等号符号 dilepton 事件会被显著修改。我们分析了 flavour 标记的衰亡，并证明等号符号电荷不对称 $A_{sl}$ 是寻找这种新型 CPT 违反效应的最佳可观测量。对该不对称的详细研究允许我们根据可能的 CPT 违反参数 $\w$ 的不同值预测不同的行为。我们得出结论，寻找这种新型 CPT 违反痕迹的最佳可观测量是 $\Dt$ 较小时对 $A_{sl}$ 的分析。我们使用现有 $A_{sl}$ 数据对 $\w$ 进行了首次限制。