从双电容悖论到数字电路中的电磁侧通道防御
密码学与安全
2025-12-24 v1
摘要
从电子电路安全的角度重新审视经典的双电容能量丢失悖论。该悖论之前已被 various 研究人员解决，能量在电容充电过程中主要被归因于热量和辐射。我们对各种标准阻抗-电容（RC）和阻抗-电感-电容（RLC）电路模型进行解析证明。从电子系统安全的视角来看，电磁（EM）侧通道分析（SCA）近年来因资源受限且联网设备的增长而获得显著关注。本文将电容充电导致的能量损失与电子设备中的 EM SCA 漏泄相联系，从而实现对嵌入设备中隐藏的加密密钥的恢复。最后，借此我们理解能量损失如何关系到 EM 辐射，提出采用绝热充电作为最小化 EM 漏泄的解决方案，为实现低开销的 EM SCA 韧性铺平了道路。
引用
@article{arxiv.2512.20303,
title = {From the Two-Capacitor Paradox to Electromagnetic Side-Channel Mitigation in Digital Circuits},
author = {Raghvendra Pratap Singh and Baibhab Chatterjee and Shreyas Sen and Debayan Das},
journal= {arXiv preprint arXiv:2512.20303},
year = {2025}
}
备注
This article got accepted in the IEEE MAPCON 2025 conference for the publication