Focused ion beam preparation of atom probe specimens containing a single crystallographically well-defined grain boundary
材料科学
2007-05-23 v1
摘要
利用双束FIB/SEM（扫描电子显微镜）系统的聚焦离子束（FIB）制备了包含单个晶界的针尖状原子探针样品。所提出的样品制备方法允许对通过场离子显微镜（FIM）和断层扫描原子探针（TAP）在晶体学取向上得到良好表征的晶界进行前所未有的研究。对此类样品的分析尤其能够确定该特定晶界处的溶质过剩原子，从而研究偏析行为。本研究以40 at.ppm-Bi掺杂的Cu双晶的S 19a {331} <110>晶界为例，详细讨论了关键的制备步骤。原子探针针尖的透射电子显微镜（TEM）图像和TAP分析明确证明了选择性制备的晶界存在于部分样品的尖端区域。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0601543,
title = {Focused ion beam preparation of atom probe specimens containing a single crystallographically well-defined grain boundary},
author = {F. Pérez-Willard and D. Wolde-Giorgis and T. Al-Kassab and G. A. López and E. J. Mittemeijer and R. Kirchheim and D. Gerthsen},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0601543},
year = {2007}
}
备注
21 pages, 6 figures