高温超导体中纳米尺寸缺陷上的磁通钉扎与临界电流
超导电性
2010-04-05 v1
摘要
基于对纳米尺寸中心上磁通钉扎的分析，本文展示了高温氧化物超导体临界电流问题研究的新结果。提出了饼状涡旋与纳米尺寸中心相互作用的新模型，并将所得结果与其他钉扎力方法进行了比较。应用了能量平衡方法，该方法导致了一个势垒的出现，该势垒决定了磁通蠕变过程中饼状涡旋的运动。分析了被捕获涡旋的各种初始位置，同时考虑了这种构型下屏蔽电流的变化，并初步计算了这种效应对电流-电压特性的影响。得到了临界电流对钉扎中心参数的依赖关系，并与实验数据进行了比较。计算了钉扎力及其温度依赖性，与实验定性一致。临界电流决定了磁感应强度分布，从而决定了磁通捕获，这是从高温超导体作为永磁体应用角度来看非常重要的参数。还计算了临界电流对陶瓷颗粒超导体中磁通捕获的影响，以及其他各种材料参数（如颗粒半径、表面势垒、陶瓷中超导颗粒的填充率）的影响。此外，简要讨论了临界电流对具有磁性衬底的第二代高温超导带材交流损耗的影响。
引用
@article{arxiv.1004.0316,
title = {Flux pinning on nano-sized defects and critical current in HTc superconductors},
author = {J. Sosnowski},
journal= {arXiv preprint arXiv:1004.0316},
year = {2010}
}
备注
29 pages, 50 equations, 35 figures, 13 references